経歴
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2022年02月-継続中
早稲田大学理工学術院総合研究所 上級研究員 研究院教授
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2017年02月-2021年03月
国立研究開発法人科学技術振興機構 戦略研究推進部グリーンイノベーショングループ 主任調査員
2024/12/01 更新
早稲田大学理工学術院総合研究所 上級研究員 研究院教授
国立研究開発法人科学技術振興機構 戦略研究推進部グリーンイノベーショングループ 主任調査員
A Variability-Aware Adaptive Test Flow for Test Quality Improvement.
Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu, Takashi Sato
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 33 ( 7 ) 1056 - 1066 2014年
Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-At ATPG Tool.
Yoshinobu Higami, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo
IEICE Transactions on Information & Systems 95-D ( 4 ) 1093 - 1100 2012年
Kohei Miyase, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Yuta Yamato, Hiroshi Furukawa, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
IEICE Transactions on Information & Systems 94-D ( 6 ) 1216 - 1226 2011年
Test Challenge for Deep Sub-micron Era - Test & Diagnosis Platform: STARCAD-Clouseau.
Takashi Aikyo
25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems(DFT) 227 - 227 2010年
A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing.
Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara, Yuta Yamato, Atsushi Takashima, Hiroshi Furukawa, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kewal K. Saluja
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 93-A ( 7 ) 1309 - 1318 2010年
Small Delay Fault Model for Intra-Gate Resistive Open Defects.
Masayuki Arai, Akifumi Suto, Kazuhiko Iwasaki, Katsuyuki Nakano, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo
27th IEEE VLSI Test Symposium(VTS) 27 - 32 2009年
Fault Effect of Open Faults Considering Adjacent Signal Lines in a 90 nm IC.
Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Toshiyuki Tsutsumi, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu
VLSI Design 2009: Improving Productivity through Higher Abstraction 91 - 96 2009年
A Novel Approach for Improving the Quality of Open Fault Diagnosis.
Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
VLSI Design 2009: Improving Productivity through Higher Abstraction 85 - 90 2009年
Diagnostic test generation for transition faults using a stuck-at ATPG tool.
Yoshinobu Higami, Yosuke Kurose, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu
2009 IEEE International Test Conference(ITC) 1 - 9 2009年
Kohei Miyase, Yuta Yamato, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
2009 International Conference on Computer-Aided Design(ICCAD) 97 - 104 2009年
An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information.
Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Takashi Sato, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu
Proceedings of the Eighteentgh Asian Test Symposium 151 - 156 2009年
Kohei Miyase, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Yuta Yamato, Hiroshi Furukawa, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
2008 International Conference on Computer-Aided Design(ICCAD) 52 - 58 2008年
A Capture-Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing.
Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Hiroshi Furukawa, Yuta Yamato, Atsushi Takashima, Kenji Noda, H. Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kewal K. Saluja
13th European Test Symposium(ETS) 55 - 60 2008年
Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation.
Seiji Kajihara, Shohei Morishima, Masahiro Yamamoto, Xiaoqing Wen, Masayasu Fukunaga, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo
IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 1 104 - 115 2008年
Post-BIST Fault Diagnosis for Multiple Faults.
Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato
IEICE Transactions on Information & Systems 91-D ( 3 ) 771 - 775 2008年
Test Data Compression for Scan-Based BIST Aiming at 100x Compression Rate.
Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto, Kazuhiko Iwasaki, Tatsuru Matsuo, Takahisa Hiraide, Hideaki Konishi, Michiaki Emori, Takashi Aikyo
IEICE Transactions on Information & Systems 91-D ( 3 ) 726 - 735 2008年
Fault Diagnosis on Multiple Fault Models by Using Pass/Fail Information.
Yuzo Takamatsu, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Koji Yamazaki
IEICE Transactions on Information & Systems 91-D ( 3 ) 675 - 682 2008年
Clues for modeling and diagnosing open faults with considering adjacent lines
Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 0 ( 0 ) 39 - + 2007年 [査読有り]
Estimation of delay test quality and its application to test generation.
Seiji Kajihara, Shohei Morishima, Masahiro Yamamoto, Xiaoqing Wen, Masayasu Fukunaga, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo
2007 International Conference on Computer-Aided Design(ICCAD) 413 - 417 2007年
Test Generation and Diagnostic Test Generation for Open Faults with Considering Adjacent Lines.
Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Toru Kikkawa, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007)(DFT) 243 - 251 2007年
Timing-Aware Diagnosis for Small Delay Defects.
Takashi Aikyo, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Junichi Ootsu, Kyohei Ono, Yuzo Takamatsu
22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007)(DFT) 223 - 234 2007年
Test Data Compression of 100x for Scan-Based BIST.
Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto, Kazuhiko Iwasaki, Tatsuru Matsuo, Takahisa Hiraide, Hideaki Konishi, Michiaki Emori, Takashi Aikyo
2006 IEEE International Test Conference(ITC) 1 - 10 2006年
Effective Post-BIST Fault Diagnosis for Multiple Faults.
Hiroshi Takahashi, Shuhei Kadoyama, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato
21th IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2006)(DFT) 401 - 109 2006年
Issues on SOC testing in DSM area: embedded tutorial.
Takashi Aikyo
Proceedings of ASP-DAC 2000, Asia and South Pacific Design Automation Conference 2000(ASP-DAC) 515 - 516 2000年
A Test Synthesis Approach to Reducing BALLAST DFT Overhead.
Douglas Chang, Mike Tien-Chien Lee, Malgorzata Marek-Sadowska, Takashi Aikyo, Kwang-Ting Cheng
Proceedings of the 34st Conference on Design Automation(DAC) 466 - 471 1997年
ATREX : Design for Testability System for Mega Gate LSIs.
Michiaki Emori, Junko Kumagai, Koichi Itaya, Takashi Aikyo, Tomoko Anan, Junichi Niimi
6th Asian Test Symposium (ATS '97) 126 1997年
ASIC CAD system based on hierarchical design-for-testability.
Michiaki Emori, Takashi Aikyo, Yasuhide Machida, Jun-ichi Shikatani
Proceedings IEEE International Test Conference 1990(ITC) 404 - 409 1990年
An Automatic Test Generation System for Large Scale Gate Arrays.
Takashi Aikyo, Y. Hatano, J. Ishii, N. Karasawa, S. Fujii
Spring COMPCON'86(COMPCON) 445 - 451 1986年
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究
日本学術振興会 科学研究費助成事業
研究期間:
温 暁青, 宮瀬 紘平, Holst Stefan, 梶原 誠司, 樹下 行三, 相京 隆, 高木 範明
統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ
新谷道広, 畠山一実, 相京隆
電子情報通信学会技術研究報告 110 ( 413(DC2010 59-69) ) 2011年
故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三
電子情報通信学会論文誌 D J93-D ( 11 ) 2010年
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法
高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三
電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 431(DC2008 68-78) ) 2009年
検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法
相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三
電子情報通信学会論文誌 D J92-D ( 7 ) 2009年
統計的タイミング情報に基づく適応型テスト
新谷道広, 高橋知之, 植山寛之, 上薗巧, 佐藤高史, 畠山一実, 相京隆, 益一哉
電子情報通信学会大会講演論文集 2009 2009年
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法
高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 門山周平, 渡部哲也, 高松雄三, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹
電子情報通信学会技術研究報告 107 ( 482(DC2007 67-83) ) 2008年
オープン故障診断の性能向上について
山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三
電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 99(DC2008 11-18) ) 2008年
縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法
相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 黒瀬洋介, 高松雄三
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 2008年
遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法
高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 2008年
遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について
森島翔平, 山本真裕, 梶原誠司, WEN Xiaoqing, 福永昌勉, 畠山一実, 相京隆
電子情報通信学会技術研究報告 106 ( 528(DC2006 80-90) ) 2007年
BAST:BIST Aided Scan Test-テストコスト削減のための新しい手法-
相京隆, 平出貴久, 江守道明
電子情報通信学会論文誌 D-1 J88-D-1 ( 6 ) 2005年
ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法
小西秀明, 岡埜靖, 山村一之, 唐沢直子, 板矢剛一, 熊谷淳子, 江守道明, 相京隆, 平出貴久
電子情報通信学会技術研究報告 101 ( 658(FTS2001 77-88) ) 2002年
パーシャルスキャン設計LSIの為の並列テストパタン故障シミュレータ
丸山大輔, 相京隆, 多田敏彦
電子情報通信学会技術研究報告 97 ( 224(FTS97 30-37) ) 1997年
アナログ・デジタル混在シミュレータMLCS
水谷徹, 姉歯伸彦, 後藤邦彦, 相京隆, 熊谷淳子, 古山智之
電子情報通信学会技術研究報告 91 ( 192(ICD91 81-90) ) 1991年