2024/04/14 更新

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アイキョウ タカシ
相京 隆
所属
理工学術院 理工学術院総合研究所
職名
上級研究員(研究院教授)
学位
博士(工学)
メールアドレス
メールアドレス

経歴

  • 2022年02月
    -
    継続中

    早稲田大学理工学術院総合研究所   上級研究員   研究院教授

  • 2017年02月
    -
    2021年03月

    国立研究開発法人科学技術振興機構   戦略研究推進部グリーンイノベーショングループ   主任調査員

研究分野

  • 電子デバイス、電子機器
 

論文

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共同研究・競争的資金等の研究課題

  • 体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

    日本学術振興会  科学研究費助成事業

    研究期間:

    2013年04月
    -
    2018年03月
     

    温 暁青, 宮瀬 紘平, Holst Stefan, 梶原 誠司, 樹下 行三, 相京 隆, 高木 範明

     概要を見る

    本研究では、LSIスキャンテストにおいて、遅延故障検出に寄与しない無効入力遷移が多く存在することに着目し、無効入力遷移を回路内に伝搬させない選択的入力遷移マスク回路を提案した。シミュレーション及びテストチップによる実測によって、テスト品質を低下させずに自己テスト電力を大幅に削減きることが確認できた。また、クロック信号線周辺の状態遷移削減によって、クロックストレッチを抑え、実速度スキャンテストの精度を高めることに成功した。提案手法は、超低電力性を要求される体内埋込み型医療機器向けLSI回路のテストに大きく寄与する。

Misc

  • 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ

    新谷道広, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   110 ( 413(DC2010 59-69) )  2011年

    J-GLOBAL

  • 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法

    山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

    電子情報通信学会論文誌 D   J93-D ( 11 )  2010年

    J-GLOBAL

  • 遅延故障診断に関する研究

    高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三, 相京隆

    愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書   ( 3 )  2010年

    J-GLOBAL

  • 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会技術研究報告   108 ( 431(DC2008 68-78) )  2009年

    J-GLOBAL

  • 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法

    相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三

    電子情報通信学会論文誌 D   J92-D ( 7 )  2009年

    J-GLOBAL

  • 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断

    高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2009  2009年

    J-GLOBAL

  • 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト

    新谷道広, 高橋知之, 植山寛之, 上薗巧, 佐藤高史, 畠山一実, 相京隆, 益一哉

    電子情報通信学会大会講演論文集   2009  2009年

    J-GLOBAL

  • 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト

    埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   109 ( 95(DC2009 10-17) )  2009年

    J-GLOBAL

  • STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究

    相京隆

    日本信頼性学会誌   31 ( 7 )  2009年

    J-GLOBAL

  • 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法

    高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2008  2008年

    J-GLOBAL

  • 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法

    高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 門山周平, 渡部哲也, 高松雄三, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹

    電子情報通信学会技術研究報告   107 ( 482(DC2007 67-83) )  2008年

    J-GLOBAL

  • オープン故障診断の性能向上について

    山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

    電子情報通信学会技術研究報告   108 ( 99(DC2008 11-18) )  2008年

    J-GLOBAL

  • 縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法

    相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 黒瀬洋介, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008年

    J-GLOBAL

  • 遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法

    高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008年

    J-GLOBAL

  • 抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて

    高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008年

    J-GLOBAL

  • 欠陥検出向けテストパターンの一選択法

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008年

    J-GLOBAL

  • 故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007年

    J-GLOBAL

  • 遅延故障に対する診断用テスト生成法

    相京隆, 吉川達, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007年

    J-GLOBAL

  • 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について

    森島翔平, 山本真裕, 梶原誠司, WEN Xiaoqing, 福永昌勉, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   106 ( 528(DC2006 80-90) )  2007年

    J-GLOBAL

  • 微小遅延故障に対する故障診断

    相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007年

    J-GLOBAL

  • 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法

    高橋寛, 樋上喜信, 吉川達, 清水祐紀, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2007  2007年

    J-GLOBAL

  • BAST:BIST Aided Scan Test-テストコスト削減のための新しい手法-

    相京隆, 平出貴久, 江守道明

    電子情報通信学会論文誌 D-1   J88-D-1 ( 6 )  2005年

    J-GLOBAL

  • ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法

    小西秀明, 岡埜靖, 山村一之, 唐沢直子, 板矢剛一, 熊谷淳子, 江守道明, 相京隆, 平出貴久

    電子情報通信学会技術研究報告   101 ( 658(FTS2001 77-88) )  2002年

    J-GLOBAL

  • テスト容易化設計技術の現状と課題

    相京隆

    電子情報通信学会大会講演論文集   2002  2002年

    J-GLOBAL

  • パーシャルスキャン設計LSIの為の並列テストパタン故障シミュレータ

    丸山大輔, 相京隆, 多田敏彦

    電子情報通信学会技術研究報告   97 ( 224(FTS97 30-37) )  1997年

    J-GLOBAL

  • マルチディテクションによる組合せ回路のテストパターンコンパクション

    小西秀明, 山本剛, 相京隆

    情報処理学会シンポジウム論文集   96 ( 4 )  1996年

    J-GLOBAL

  • 単一縮退故障モデルによる論理回路の多重故障診断

    浜田周治, 相京隆, 山本剛

    情報処理学会シンポジウム論文集   94 ( 5 )  1994年

    J-GLOBAL

  • VLSIテストCADシステム

    相京隆

    Fujitsu   43 ( 1 )  1992年

    J-GLOBAL

  • 部分スキャン設計に関する一考察

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会技術研究報告   91 ( 261(FTS91 36-44) )  1991年

    J-GLOBAL

  • 特集 テスティング技術 階層構造を利用したASICのテスト容易化技術

    相京隆, 江守道明, 町田泰秀

    月刊Semiconductor World   10 ( 12 )  1991年

    J-GLOBAL

  • アナログ・デジタル混在シミュレータMLCS

    水谷徹, 姉歯伸彦, 後藤邦彦, 相京隆, 熊谷淳子, 古山智之

    電子情報通信学会技術研究報告   91 ( 192(ICD91 81-90) )  1991年

    J-GLOBAL

  • 部分スキャン設計に関する一考察

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会全国大会講演論文集   1991 ( Spring Pt 5 )  1991年

    J-GLOBAL

  • 部分スキャン設計に関する一考察

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    情報処理学会研究報告   91 ( 87(DA-59) )  1991年

    J-GLOBAL

  • 自動テスト回路生成システム

    相京隆, 唐沢直子, 高岡晴義, 末広善之

    電子情報通信学会全国大会講演論文集   1989 ( Spring Pt.1 )  1989年

    J-GLOBAL

  • LSI故障診断システム

    山本剛, 西風浩二, 相京隆, 町田泰秀

    情報処理学会全国大会講演論文集   39th ( 3 )  1989年

    J-GLOBAL

  • LSI故障診断システム

    山本剛, 西風浩二, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会技術研究報告   89 ( 348(ICD89 163-174) )  1989年

    J-GLOBAL

  • カスタムVLSI設計CADシステム

    堤定雄, 河内一往, 相京隆

    Fujitsu   39 ( 5 )  1988年

    J-GLOBAL

  • 極小強連結グラフを用いた有向グラフの基本分割

    大石進一, 相京隆, 大津要介

    電子通信学会技術研究報告   78 ( 275 )  1979年

    J-GLOBAL

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