Updated on 2023/09/24

写真a

 
AIKYO, Takashi
 
Affiliation
Faculty of Science and Engineering, Waseda Research Institute for Science and Engineering
Job title
Senior Researcher(Professor)
Degree
博士（工学）
Mail Address
メールアドレス

Research Experience

  • 2022.02
    -
    Now

    Waseda Research Institute for Science and Engineering   Senior Reseacher

  • 2017.02
    -
    2021.03

    Japan Science and Technology Agency

Research Areas

  • Electron device and electronic equipment
 

Papers

▼display all

Misc

  • Variation Aware Test Methodology Based on Statistical Static Timing Analysis

    新谷道広, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   110 ( 413(DC2010 59-69) )  2011

    J-GLOBAL

  • 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法

    山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

    電子情報通信学会論文誌 D   J93-D ( 11 )  2010

    J-GLOBAL

  • 遅延故障診断に関する研究

    高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三, 相京隆

    愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書   ( 3 )  2010

    J-GLOBAL

  • A method for generating defect oriented test patterns for combinatorial circuit

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会技術研究報告   108 ( 431(DC2008 68-78) )  2009

    J-GLOBAL

  • 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法

    相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三

    電子情報通信学会論文誌 D   J92-D ( 7 )  2009

    J-GLOBAL

  • 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断

    高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2009  2009

    J-GLOBAL

  • 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト

    新谷道広, 高橋知之, 植山寛之, 上薗巧, 佐藤高史, 畠山一実, 相京隆, 益一哉

    電子情報通信学会大会講演論文集   2009  2009

    J-GLOBAL

  • Power & Noise Aware Test Utilizing Preliminary Estimation

    埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   109 ( 95(DC2009 10-17) )  2009

    J-GLOBAL

  • STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究

    相京隆

    日本信頼性学会誌   31 ( 7 )  2009

    J-GLOBAL

  • 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法

    高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2008  2008

    J-GLOBAL

  • Fault Diagnosis for Dynamic Open Faults with Considering Adjacent Lines

    高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 門山周平, 渡部哲也, 高松雄三, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹

    電子情報通信学会技術研究報告   107 ( 482(DC2007 67-83) )  2008

    J-GLOBAL

  • Improving the Diagnostic Quality of Open Faults

    山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

    電子情報通信学会技術研究報告   108 ( 99(DC2008 11-18) )  2008

    J-GLOBAL

  • 縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法

    相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 黒瀬洋介, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法

    高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて

    高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 欠陥検出向けテストパターンの一選択法

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007

    J-GLOBAL

  • 遅延故障に対する診断用テスト生成法

    相京隆, 吉川達, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007

    J-GLOBAL

  • On generation of high-quality test patterns for transition faults

    森島翔平, 山本真裕, 梶原誠司, WEN Xiaoqing, 福永昌勉, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   106 ( 528(DC2006 80-90) )  2007

    J-GLOBAL

  • 微小遅延故障に対する故障診断

    相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007

    J-GLOBAL

  • 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法

    高橋寛, 樋上喜信, 吉川達, 清水祐紀, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2007  2007

    J-GLOBAL

  • BAST: BIST Aided Scan Test-A New Method for Test Cost Reduction-

    相京隆, 平出貴久, 江守道明

    電子情報通信学会論文誌 D-1   J88-D-1 ( 6 )  2005

    J-GLOBAL

  • A New Method for Test Cost Reduction using ATG and BIST Techniques.

    小西秀明, 岡埜靖, 山村一之, 唐沢直子, 板矢剛一, 熊谷淳子, 江守道明, 相京隆, 平出貴久

    電子情報通信学会技術研究報告   101 ( 658(FTS2001 77-88) )  2002

    J-GLOBAL

  • テスト容易化設計技術の現状と課題

    相京隆

    電子情報通信学会大会講演論文集   2002  2002

    J-GLOBAL

  • A Parallel Test Pattern Fault Simulator for Partital Scan Design LSI.

    丸山大輔, 相京隆, 多田敏彦

    電子情報通信学会技術研究報告   97 ( 224(FTS97 30-37) )  1997

    J-GLOBAL

  • Test pattern compaction in combinational logic circuits using multiple detection method.

    小西秀明, 山本剛, 相京隆

    情報処理学会シンポジウム論文集   96 ( 4 )  1996

    J-GLOBAL

  • A Method of Diagnosing Multiple Faults Based on Single Stuck-at Fault Model.

    浜田周治, 相京隆, 山本剛

    情報処理学会シンポジウム論文集   94 ( 5 )  1994

    J-GLOBAL

  • VLSI Test CAD System.

    相京隆

    Fujitsu   43 ( 1 )  1992

    J-GLOBAL

  • A Study on Partial Scan Design.

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会技術研究報告   91 ( 261(FTS91 36-44) )  1991

    J-GLOBAL

  • Special issue : testing technology.Test simplification technology of ASIC using a hierarchical structure.

    相京隆, 江守道明, 町田泰秀

    月刊Semiconductor World   10 ( 12 )  1991

    J-GLOBAL

  • A mixed analog/digital simulator MLCS.

    水谷徹, 姉歯伸彦, 後藤邦彦, 相京隆, 熊谷淳子, 古山智之

    電子情報通信学会技術研究報告   91 ( 192(ICD91 81-90) )  1991

    J-GLOBAL

  • A study on partial scan design.

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会全国大会講演論文集   1991 ( Spring Pt 5 )  1991

    J-GLOBAL

  • A Study on Partial Scan Design.

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    情報処理学会研究報告   91 ( 87(DA-59) )  1991

    J-GLOBAL

  • An automatic circuit generation system.

    相京隆, 唐沢直子, 高岡晴義, 末広善之

    電子情報通信学会全国大会講演論文集   1989 ( Spring Pt.1 )  1989

    J-GLOBAL

  • A system for VLSI fault diagnosis.

    山本剛, 西風浩二, 相京隆, 町田泰秀

    情報処理学会全国大会講演論文集   39th ( 3 )  1989

    J-GLOBAL

  • A system for LSI fault diagnosis.

    山本剛, 西風浩二, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会技術研究報告   89 ( 348(ICD89 163-174) )  1989

    J-GLOBAL

  • Integrated CAD system for custom VLSI design.

    堤定雄, 河内一往, 相京隆

    Fujitsu   39 ( 5 )  1988

    J-GLOBAL

  • 極小強連結グラフを用いた有向グラフの基本分割

    大石進一, 相京隆, 大津要介

    電子通信学会技術研究報告   78 ( 275 )  1979

    J-GLOBAL

▼display all