Updated on 2024/04/14

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AIKYO, Takashi
 
Affiliation
Faculty of Science and Engineering, Waseda Research Institute for Science and Engineering
Job title
Senior Researcher(Professor)
Degree
博士（工学）
Mail Address
メールアドレス

Research Experience

  • 2022.02
    -
    Now

    Waseda Research Institute for Science and Engineering   Senior Reseacher

  • 2017.02
    -
    2021.03

    Japan Science and Technology Agency

Research Areas

  • Electron device and electronic equipment
 

Papers

▼display all

Research Projects

  • Research on Extra-Low-Power Self-Test for LSI Circuits in Implantable Medical Devices

    Japan Society for the Promotion of Science  Grants-in-Aid for Scientific Research

    Project Year :

    2013.04
    -
    2018.03
     

    WEN XIAOQING, KINOSHITA Kozo, Saluja K. K., Tehranipoor M., Girard P., AIKYO Takashi, TAKAGI Noriaki, Keller B., Varma P.

    　View Summary

    In this research, we focused on the fact that there are many invalid input transitions that do not contribute to delay fault detection in the LSI scan test, and proposed a selective input transition mask circuit that does not propagate invalid input transitions in the circuit. It was confirmed that the self test power can be drastically reduced without deteriorating the test quality by actual test-chip-based measurement as well as simulatin-based evaluation. Moreover, we succeeded in suppressing the clock stretch and improving the accuracy of the actual speed scan test by reducing the state transition around the clock signal line. The proposed method greatly contributes to the testing of LSI circuits for implantable medical devices that require ultra low power.

Misc

  • Variation Aware Test Methodology Based on Statistical Static Timing Analysis

    新谷道広, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   110 ( 413(DC2010 59-69) )  2011

    J-GLOBAL

  • 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法

    山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

    電子情報通信学会論文誌 D   J93-D ( 11 )  2010

    J-GLOBAL

  • 遅延故障診断に関する研究

    高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三, 相京隆

    愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書   ( 3 )  2010

    J-GLOBAL

  • A method for generating defect oriented test patterns for combinatorial circuit

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会技術研究報告   108 ( 431(DC2008 68-78) )  2009

    J-GLOBAL

  • 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法

    相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三

    電子情報通信学会論文誌 D   J92-D ( 7 )  2009

    J-GLOBAL

  • 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断

    高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2009  2009

    J-GLOBAL

  • 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト

    新谷道広, 高橋知之, 植山寛之, 上薗巧, 佐藤高史, 畠山一実, 相京隆, 益一哉

    電子情報通信学会大会講演論文集   2009  2009

    J-GLOBAL

  • Power & Noise Aware Test Utilizing Preliminary Estimation

    埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   109 ( 95(DC2009 10-17) )  2009

    J-GLOBAL

  • STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究

    相京隆

    日本信頼性学会誌   31 ( 7 )  2009

    J-GLOBAL

  • 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法

    高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2008  2008

    J-GLOBAL

  • Fault Diagnosis for Dynamic Open Faults with Considering Adjacent Lines

    高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 門山周平, 渡部哲也, 高松雄三, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹

    電子情報通信学会技術研究報告   107 ( 482(DC2007 67-83) )  2008

    J-GLOBAL

  • Improving the Diagnostic Quality of Open Faults

    山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

    電子情報通信学会技術研究報告   108 ( 99(DC2008 11-18) )  2008

    J-GLOBAL

  • 縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法

    相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 黒瀬洋介, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法

    高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて

    高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 欠陥検出向けテストパターンの一選択法

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2008  2008

    J-GLOBAL

  • 故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン

    高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007

    J-GLOBAL

  • 遅延故障に対する診断用テスト生成法

    相京隆, 吉川達, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007

    J-GLOBAL

  • On generation of high-quality test patterns for transition faults

    森島翔平, 山本真裕, 梶原誠司, WEN Xiaoqing, 福永昌勉, 畠山一実, 相京隆

    電子情報通信学会技術研究報告   106 ( 528(DC2006 80-90) )  2007

    J-GLOBAL

  • 微小遅延故障に対する故障診断

    相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 高松雄三

    電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2007  2007

    J-GLOBAL

  • 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法

    高橋寛, 樋上喜信, 吉川達, 清水祐紀, 相京隆, 高松雄三

    電子情報通信学会大会講演論文集   2007  2007

    J-GLOBAL

  • BAST: BIST Aided Scan Test-A New Method for Test Cost Reduction-

    相京隆, 平出貴久, 江守道明

    電子情報通信学会論文誌 D-1   J88-D-1 ( 6 )  2005

    J-GLOBAL

  • A New Method for Test Cost Reduction using ATG and BIST Techniques.

    小西秀明, 岡埜靖, 山村一之, 唐沢直子, 板矢剛一, 熊谷淳子, 江守道明, 相京隆, 平出貴久

    電子情報通信学会技術研究報告   101 ( 658(FTS2001 77-88) )  2002

    J-GLOBAL

  • テスト容易化設計技術の現状と課題

    相京隆

    電子情報通信学会大会講演論文集   2002  2002

    J-GLOBAL

  • A Parallel Test Pattern Fault Simulator for Partital Scan Design LSI.

    丸山大輔, 相京隆, 多田敏彦

    電子情報通信学会技術研究報告   97 ( 224(FTS97 30-37) )  1997

    J-GLOBAL

  • Test pattern compaction in combinational logic circuits using multiple detection method.

    小西秀明, 山本剛, 相京隆

    情報処理学会シンポジウム論文集   96 ( 4 )  1996

    J-GLOBAL

  • A Method of Diagnosing Multiple Faults Based on Single Stuck-at Fault Model.

    浜田周治, 相京隆, 山本剛

    情報処理学会シンポジウム論文集   94 ( 5 )  1994

    J-GLOBAL

  • VLSI Test CAD System.

    相京隆

    Fujitsu   43 ( 1 )  1992

    J-GLOBAL

  • A Study on Partial Scan Design.

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会技術研究報告   91 ( 261(FTS91 36-44) )  1991

    J-GLOBAL

  • Special issue : testing technology.Test simplification technology of ASIC using a hierarchical structure.

    相京隆, 江守道明, 町田泰秀

    月刊Semiconductor World   10 ( 12 )  1991

    J-GLOBAL

  • A mixed analog/digital simulator MLCS.

    水谷徹, 姉歯伸彦, 後藤邦彦, 相京隆, 熊谷淳子, 古山智之

    電子情報通信学会技術研究報告   91 ( 192(ICD91 81-90) )  1991

    J-GLOBAL

  • A study on partial scan design.

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会全国大会講演論文集   1991 ( Spring Pt 5 )  1991

    J-GLOBAL

  • A Study on Partial Scan Design.

    浜田周治, 相京隆, 町田泰秀

    情報処理学会研究報告   91 ( 87(DA-59) )  1991

    J-GLOBAL

  • An automatic circuit generation system.

    相京隆, 唐沢直子, 高岡晴義, 末広善之

    電子情報通信学会全国大会講演論文集   1989 ( Spring Pt.1 )  1989

    J-GLOBAL

  • A system for VLSI fault diagnosis.

    山本剛, 西風浩二, 相京隆, 町田泰秀

    情報処理学会全国大会講演論文集   39th ( 3 )  1989

    J-GLOBAL

  • A system for LSI fault diagnosis.

    山本剛, 西風浩二, 相京隆, 町田泰秀

    電子情報通信学会技術研究報告   89 ( 348(ICD89 163-174) )  1989

    J-GLOBAL

  • Integrated CAD system for custom VLSI design.

    堤定雄, 河内一往, 相京隆

    Fujitsu   39 ( 5 )  1988

    J-GLOBAL

  • 極小強連結グラフを用いた有向グラフの基本分割

    大石進一, 相京隆, 大津要介

    電子通信学会技術研究報告   78 ( 275 )  1979

    J-GLOBAL

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